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检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项：基准电压VREF 检测样品：电压调整器（三端稳压电源） 标准：《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T 4377-1996
检测项：输出电压（基准部分）VREF 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项：电压调整率（基准部分）SV 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：基准电压VREF 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：基准电压输出Vref 检测样品：模拟乘法器 标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：基准电压Vref 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》
检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
检测项：输入负向阈值电压VIT 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：基准电压VREF 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：集电极-发射极饱和电压VCEsat 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
检测项：基极-发射极饱和电压VBesat 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项：基准电压VREF 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇
检测项：输出电压和电流 检测样品：灯头温升 标准：GB/T 24392-2009 IEC 60360:1998 灯头温升的测量方法
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：基准电压 （VREF） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998
检测项：电源电压抑制比(PSRR) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：输出峰峰电压(VO+,VO-) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：基准电压Vref 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：基准输出电压VRO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：基准输入电流IRI 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：输出电压 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：基准电压 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996
检测项：门极触发电压 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
